生物通

温度与沟道掺杂对SNSFET、HS-NSFET及PHS-NSFET性能影响的综合研究

为应对纳米级晶体管在高温与掺杂条件下的性能退化问题，研究人员通过Sentaurus TCAD工具系统分析了堆叠纳米片FET（SNSFET）、H ...
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多桥结核心绝缘体NSFET在先进技术节点上的性能基准测试：从器件到 ...

多桥核心绝缘体纳米片FET器件性能优化及电路应用研究。基于Sentaurus TCAD三维模拟，分析了三叠层MBCI-NSFET的DC特性（I ON=10?5 A ...